6月5日，《覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法》等5项团体标准起草组成立，并召开第1次工作组讨论会。徐州市发明协会孟庆才副会长主持会议。
江苏上达半导体有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、武汉大学、江苏华商企业管理咨询服务有限公司等单位联合成立了《覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法》等5项团体标准起草工作组，共9名起草人和专家参加了团体标准第1次工作组讨论会。
会上，徐州市发明协会孟庆才副会长介绍了GB/T 20001.4-2015《标准编写规则
第4部分：试验方法标准》 、GB/T 20001.5-2017《标准编写规则
第5部分：规范标准》和团体标准起草阶段的相关要求。
《覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法》团体标准起草组，经过认真细致的研讨，讨论结论如下：依据GB/T 20001.4-2015《标准编写规则 第4部分：试验方法标准》 、GB/T 20001.5-2017《标准编写规则
第5部分：规范标准》的要求，进一步完善5项标准的原理和证实方法等内容。起草组形成标准《覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法》（征求意见稿），面向社会征求意见，争取团体标准早日发布实施。
徐州市发明协会自2016年开展团体标准工作以来，起草并发布了T/XAI7-2021《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》、T/XAI8-2021《覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法》、T/XAI9-2021《覆晶薄膜油墨硬度测试方法》、T/XAI10-2021《封装基板阻抗值测试设备》、T/XAI12-2021《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》等5项与覆晶薄膜有关的团体标准，填补了覆晶薄膜领域相关团体标准的空白。其中T/XAI12-2021《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》荣获工信部2022年度百项团体标准应用示范项目（工信部科函〔2022〕272号）。
江苏上达半导体有限公司联合多家起草单位，牵头起草的《覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法》等5项团体标准，将促进覆晶薄膜等技术领域相关标准体系的进一步完善。
来源：徐州市发明协会
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